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- Profilm3DKLA 光學(xué)輪廓儀
KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。采用白光干涉原理，不損傷樣品。
- 型號(hào)：Profilm3D
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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- P-7KLA 探針式臺(tái)階儀
KLA P-7 探針式臺(tái)階儀是KLA公司的探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了性價(jià)比。KLA P-7 探針式臺(tái)階儀可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。
- 型號(hào)：P-7
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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- Zeta-20KLA 白光共聚焦顯微鏡
KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術(shù)而來(lái)。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對(duì)大部分材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介質(zhì)。KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡使用模塊化設(shè)計(jì)理念，為用戶提供了一系列的硬件和軟件選項(xiàng)來(lái)滿足各種不同的測(cè)量需求，所有硬件安裝和操作都簡(jiǎn)單易用。
- 型號(hào)：Zeta-20
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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- AFSEMNanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡
Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯(lián)合兩種功能強(qiáng)大的分析工具，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM)，構(gòu)造真實(shí)的三維表面形貌，精確地測(cè)量高度信息、距離信息甚至材料屬性，但同時(shí)保持了在SEM的大范圍視場(chǎng)里定位AFSEM懸臂梁到您想要測(cè)量的準(zhǔn)確位置上。進(jìn)而大大地?cái)U(kuò)展了您的相關(guān)顯微鏡測(cè)量與分析的可行性。
- 型號(hào)：AFSEM
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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- Flex-ANANanosurf 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學(xué)分析的自動(dòng)化解決方案。它旨在以直觀和自動(dòng)化的方式通過(guò)力譜和力圖研究多種或大型樣品上的材料（例如細(xì)胞，組織，支架，水凝膠和聚合物）的納米力學(xué)性能。對(duì)于多個(gè)樣品或者大起伏樣品有優(yōu)勢(shì)。
- 型號(hào)：Flex-ANA
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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- Zeta-388KLA 表面光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta-388光學(xué)輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在Zeta-300光學(xué)輪廓儀的基礎(chǔ)上，增加了用于全自動(dòng)測(cè)量的機(jī)械手臂操作系統(tǒng)。Zeta-388光學(xué)輪廓儀采用ZDot技術(shù)和多模組光學(xué)系統(tǒng)，可測(cè)量各種不同的樣品：包括透明與不透明、低至高反射率、光滑到粗糙的表面，以及亞納米級(jí)到毫米級(jí)的臺(tái)階高度。
- 型號(hào)：Zeta-388
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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- P-170KLA 全自動(dòng)探針式表面輪廓儀
KLA P-170 全自動(dòng)探針式表面輪廓儀一款盒對(duì)盒型臺(tái)階儀，具有KLA P-17 探針式表面輪廓儀的臺(tái)式系統(tǒng)測(cè)量性能和HRP260系統(tǒng)經(jīng)生產(chǎn)驗(yàn)證的處理程序。該系統(tǒng)提供了一個(gè)可編程的掃描平臺(tái)、低噪音和整個(gè)垂直范圍內(nèi)的亞安格倫電子分辨率，可以在樣品表面的任何地方進(jìn)行高分辨率掃描。
- 型號(hào)：P-170
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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- P-17KLA 探針式臺(tái)階儀
KLA P-17 探針式臺(tái)階儀是P系列探針式臺(tái)階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺(tái)、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個(gè)區(qū)域。KLA P-17 探針式臺(tái)階儀的優(yōu)點(diǎn)包括200mm掃描平臺(tái)，可以在無(wú)需拼接的情況下測(cè)量整個(gè)基片。UltraLite傳感器組件結(jié)合了線性垂直測(cè)量和恒定力控制，可測(cè)量各種材料和地形。
- 型號(hào)：P-17
- 更新日期：2025-06-25 ￥面議
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