膜厚儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領域都得到了廣泛的應用，尤其是光學膜厚儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對光學膜厚儀做個簡單了解。

<1>光學膜厚儀的優(yōu)點

　　1.非接觸式測量

　　光學膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。

　　2.測量數據多樣

　　可以測得物體的膜厚度和n，k數據，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。

　　3.測量快速

　　光學膜厚儀的測量過程非常快速，因為該設備采用了的結構設計，能夠極大程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設備來說顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　光學膜厚儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產，再到大學實驗室和科學研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。

<2>光學膜厚儀的使用注意事項

　　1.零點校準

　　在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準，因為之前的測量參數會影響該次對物體的測量，零點校準可以消除前次測量有參數的影響，能夠降低測量的結果的誤差，使測量結果更加。

　　2.基體厚度不宜過薄

　　在使用光學膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數據結果不，影響測量過程的正常進行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了光學膜厚儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑，以測量結果的性。

　　有關于光學膜厚儀的優(yōu)勢以及使用注意事項在上面的內容中已經跟大家做了一個具體的介紹，如果想對光學膜厚儀有進一步的了解請聯(lián)系我們，可和我們工程師一對一溝通交流。