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Filmetrics 薄膜測厚儀
2016/8/17 [3064]

Filmetrics 薄膜測厚儀

Filmetrics F40 薄膜測厚儀結合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)

Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內就可測量結果。

當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行,或者其他應用要求光斑小至1微米時,F40是的選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡,再進行測量,即可獲得的厚度及光學參數(shù)值。只要透過FilmetricsC-mount連接附件,F40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭,可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看到樣品和測量位置。

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