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自動光譜橢偏儀光譜范圍覆蓋從深紫外到可見光再到近紅外.深紫外波長非常適合測量超薄薄膜，比如納米厚度薄膜厚度，比如硅晶圓的薄膜厚度，典型值在2nm左右。對于測量許多材料的帶隙，深紫外光譜橢偏儀也非常重要。橢圓偏振技術是通過研究光束在樣本表面反射后偏振態(tài)變化而獲得表面薄膜厚度等信息的薄膜測量技術。與反射計或反射光譜技術不同的是，光譜橢偏儀參數(shù)Psi和Del并非在常見入射角下獲得。通過改變?nèi)肷浣谴笮?，可獲得許多組數(shù)據(jù)，這樣就非常有助于優(yōu)化橢偏儀測量薄膜或樣本表面的能力，因此變角橢偏...

高精度的機器設備對于現(xiàn)代化工廠來說，是重要的，采購在選擇的時候會考慮很多因素，對于生產(chǎn)制造而言，設備的質(zhì)量好，適合生產(chǎn)要求，可以極大的提高企業(yè)工作效率，提高產(chǎn)能，并且對企業(yè)發(fā)展起到一定的推動作用，所以，采購在設備的選擇購買上一般都會很慎重。既然這樣，像光學膜厚儀這類光學高精度儀器，如何選擇適合自己企業(yè)生產(chǎn)的機臺？但是，市場上，經(jīng)銷商那么多，各種型號，諸多選擇，人們就會很困擾，如何選擇。那么就以我們優(yōu)尼康為例，和大家說一說如何選擇，給大家起到一個參考作用。優(yōu)尼康科技有限公司是一...

膜厚儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領域都得到了廣泛的應用，尤其是光學膜厚儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對光學膜厚儀做個簡單了解。光學膜厚儀的優(yōu)點1.非接觸式測量光學膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。2.測量數(shù)據(jù)多樣可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。3.測量快速光學膜厚儀的測量過程非?？?..

臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，臺階儀一定能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學領域。臺階儀具備高精度、方便使用、作用強等優(yōu)勢...

1、無損檢測手持式合金分析儀無損檢測與破壞性檢測方法不同，樣品在整個測試過程中無任何損壞。2、特殊構造采用堅韌的LEXAN，塑料密封外殼，重量輕，堅固耐用；密封式一體化設計，防塵、防水、防腐蝕，可在任何地方安全使用。3、性能精度高，實驗室級的分析水平，可直觀顯示合牌號和元素百分比含量(某些元素可顯示到小數(shù)點后三位)及ppm含量。速度快，操作簡單“開機啟動—瞄準測試—察看結果”，整個分析過程僅需數(shù)秒便可完成，合牌號鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術人員也可輕松掌握。4、靈...

1.ZSI：剪切干涉測量技術提供z向高分辨率圖像。2.ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率。3.AOI：自動光學檢測，并對樣品上的缺陷進行量化。4.ZXI：白光干涉測量技術，適用于z向分辨率高的廣域測量。5.ZDot：同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和TrueColor（真彩）無限遠焦點圖像。6.ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)。7.生產(chǎn)能力：通過測序和圖案識別實現(xiàn)全自動測量。8.光學輪廓儀可用于樣品復檢或缺陷檢測的高質(zhì)量顯微鏡。9.采用Z...