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膜厚儀做為一種測(cè)量物體厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是涂層測(cè)厚儀，擁有測(cè)量精度高，利用探頭接觸測(cè)量方式的優(yōu)點(diǎn)。光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的使用注意事項(xiàng)：1.零點(diǎn)校準(zhǔn)在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響，能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差，使測(cè)量結(jié)果更加。2.基體厚度不宜過(guò)薄在使用...

XRF鍍層測(cè)厚儀主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。XRF鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量工作原理：1、磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測(cè)量精度高（如：鐵等磁性材料）2、渦流測(cè)厚法：渦流測(cè)量原理是高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測(cè)厚法一樣，渦流測(cè)厚法也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程1...

XRF手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來(lái)?yè)p失。XRF手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的儀器。XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)...

光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。使用光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的注意事項(xiàng)有以下三點(diǎn)：一、注意保持試件表面的清潔和平整的光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是一個(gè)非常精密的儀器，如果我們要想我們的測(cè)量數(shù)據(jù)能夠保持的話，就要保持試件表面的清潔，及時(shí)的處理掉試件表面的附...

XRF手持式合金分析儀是用于測(cè)量合金材料、金屬材料和其它材料的成分的，但你了解手持式合金分析儀還能用于測(cè)量鍍層厚度嗎？手持式合金光譜儀分析儀可測(cè)量金屬材料、塑膠、玻璃甚至是木料鍍層的厚度。優(yōu)勢(shì)一：超長(zhǎng)的運(yùn)行時(shí)間，彌補(bǔ)野外勘測(cè)設(shè)備弊端XRF手持式合金分析儀運(yùn)行時(shí)間很長(zhǎng)，設(shè)備耗電量較低，非常適合在實(shí)驗(yàn)室以外的場(chǎng)地進(jìn)行檢測(cè)，有效避免在檢測(cè)過(guò)程中電量不足導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)中斷的現(xiàn)象發(fā)生，彌補(bǔ)了大多數(shù)合金分析儀續(xù)航時(shí)間短這一共性缺陷。XRF手持式合金分析儀重量?jī)H有1.54公斤，這一特性也讓它在野...

XRF鍍層測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析?；谖④浿形囊暣跋到y(tǒng)的中文版應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI主機(jī)的自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r(shí)測(cè)定多種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足特定分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏...