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光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x能夠避免前期的樣品處理，甚至是不需要樣品來(lái)進(jìn)行試樣工作。傳統(tǒng)的測(cè)厚儀，在測(cè)量物件時(shí)，需要進(jìn)行樣品的處理，使樣品與被測(cè)量物件一致，在測(cè)量時(shí)直接應(yīng)用于樣品測(cè)量。而儀器的使用是直接應(yīng)用于被測(cè)量物體。這樣的一個(gè)過(guò)程便為我們節(jié)省了不少的...

3D光學(xué)輪廓儀是一種用于材料科學(xué)、電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面...

XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線(xiàn)的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線(xiàn)的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。下...

光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x利用X射線(xiàn)穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線(xiàn)的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。光...

光學(xué)3d表面輪廓儀不僅僅是用于零部件的檢測(cè)，還有一種可用于生產(chǎn)線(xiàn)上對(duì)生產(chǎn)中的軋材表面缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備，它以激光檢測(cè)原理完成了缺陷尺寸的在線(xiàn)檢測(cè)。光學(xué)3d表面輪廓儀通過(guò)對(duì)被測(cè)物進(jìn)行缺陷檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了被測(cè)物件的在線(xiàn)連續(xù)式缺陷檢測(cè)，及時(shí)的防止帶缺...

薄膜厚度測(cè)量?jī)x又叫膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、膜厚計(jì)或者鍍層測(cè)厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基...