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橢偏儀的應(yīng)用領(lǐng)域和特點(diǎn)

2020-04-26 [1149]
   橢偏儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。由于測(cè)量精度高,適用于超薄膜,與樣品非接觸,對(duì)樣品沒(méi)有破壞且不需要真空,使得橢偏儀成為一種吸引力的測(cè)量?jī)x器。
  橢偏儀應(yīng)用領(lǐng)域:半導(dǎo)體、微電子、MEMS、通訊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、光學(xué)鍍膜、平板顯示器、科學(xué)研究、物理、化學(xué)、生物、醫(yī)藥。
  橢偏儀可測(cè)材料:半導(dǎo)體、介電材料、有機(jī)高分子聚合物、金屬氧化物、金屬鈍化膜、自組裝單分子層、多層膜物質(zhì)和石墨烯等等。
  橢偏儀構(gòu)造:在橢偏儀的測(cè)量中使用不同的硬件配置,但每種配置都必須能產(chǎn)生已知偏振態(tài)的光束。測(cè)量由被測(cè)樣品反射后光的偏振態(tài)。這要求儀器能夠量化偏振態(tài)的變化量ρ。
  有些儀器測(cè)量ρ是通過(guò)旋轉(zhuǎn)確定初始偏振光狀態(tài)的偏振。再利用第二個(gè)固定位置的偏振片來(lái)測(cè)得輸出光束的偏振態(tài)。另外一些儀器是固定起偏器和檢偏器,而在中間部分調(diào)制偏振光的狀態(tài),如利用聲光晶體等,終得到輸出光束的偏振態(tài)。這些不同的配置的終結(jié)果都是測(cè)量作為波長(zhǎng)和入射角復(fù)函數(shù)ρ。
  在選則合適的橢偏儀的時(shí)候,光譜范圍和測(cè)量速度也是一個(gè)通常需要考慮的重要因素。可選的光譜范圍從深紫外的142nm到紅外的33microm。光譜范圍的選擇通常由應(yīng)用決定。不同的光譜范圍能夠提供關(guān)于材料的不同信息,合適的儀器必須和所要測(cè)量的光譜范圍匹配。
  橢偏儀產(chǎn)品特點(diǎn):
  1、更簡(jiǎn)便快捷的樣品準(zhǔn)直方法
  2、軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫(kù)
  3、連續(xù)波長(zhǎng)的光源為用戶提供了更大的應(yīng)用空間
  4、允許用戶自定義色散模型,更方便用戶研究新材料的光學(xué)性質(zhì)
  5、全波長(zhǎng)多角度同時(shí)數(shù)據(jù)擬合,EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
  6、具有實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能
  7、光譜范圍寬達(dá)250 - 1100nm
  8、橢偏儀功能強(qiáng)大的光譜橢偏測(cè)量與分析軟件