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Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀

簡要描述:Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米,可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點.只需具備基本電腦技能,就可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方。

  • 產(chǎn)品型號:F54
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2025-06-24
  • 訪  問  量:3662
產(chǎn)品詳情

Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀




Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品介紹:

Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米,可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點.只需具備基本電腦技能,就可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方。


Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品特點:

  • 自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng),快速定位、實時獲得結(jié)果;

  • 可測樣品膜層:基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量;

  • 測繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn),方便用戶從不同的角度檢視;


Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀測量原理:

當入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。



Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品應(yīng)用:

半導(dǎo)體膜層

顯示技術(shù)

消費電子

派瑞林

光刻膠

OLED

防水涂層

電子產(chǎn)品/電路板

介電層

ITO和TCOs

射頻識別

磁性材料

砷化鎵

空氣盒厚

太陽能電池

醫(yī)學(xué)器械

微機電系統(tǒng)

PVD和CVD

鋁制外殼陽極膜

硅橡膠



Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品參數(shù):

波長范圍:

190nm-1700nm

光源:

鎢鹵素燈、氘燈

光斑大小:

標準1.5毫米

測量精度2:

0.02nm

準確度*:取較大者

1nm或0.2%

穩(wěn)定性3:

0.05nm

5X物鏡厚度范圍:

20nm-120μm

更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取



Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀測量圖:


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