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    型號(hào):Film Sense FS-1
    更新日期:2023-07-24
    面議
  • F60-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x

    -Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x F60-t 系列就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測(cè)繪薄膜厚度和折射率,但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。 這些功能包括凹槽自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)基定、全封閉測(cè)量平臺(tái)、預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī),以及升級(jí)到全自動(dòng)化晶圓傳輸?shù)臋C(jī)型。

    型號(hào):F60
    更新日期:2023-06-05
    面議
  • F54-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x

    -Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x-F54系列的產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米 可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無(wú)數(shù)量限制之測(cè)量點(diǎn).僅需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方

    型號(hào):F54
    更新日期:2023-07-24
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  • F50-Filmetrics光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x

    -Filmetrics光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x:依靠F50的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡(jiǎn)單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以非常快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非??焖伲蠹s每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái),確保能夠做成千上萬(wàn)次測(cè)量。

    型號(hào):F50
    更新日期:2023-06-05
    面議
  • F40-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x

    Filmetrics F40-EXR 搭配 SS-Microscope-EXR-1系統(tǒng) -Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x的精密光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。當(dāng)測(cè)量需要在待測(cè)樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行,或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí),F(xiàn)40是不錯(cuò)的選擇。

    型號(hào):F40
    更新日期:2023-06-05
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  • F20-Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x

    -Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x:不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常熟,還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率,F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過(guò)USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果?;谀衬K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用:

    型號(hào):F20
    更新日期:2024-07-24
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  • F10-RT-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x

    -Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x:以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo),F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統(tǒng)價(jià)格的一小部分,用戶就能進(jìn)行低/高分析、確定 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。測(cè)量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。

    型號(hào):F10-RT
    更新日期:2023-06-05
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  • F10-HC-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x

    -Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x:以F20平臺(tái)為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測(cè)量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度,加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計(jì),能夠在厚膜中測(cè)量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。

    型號(hào):F10-HC
    更新日期:2023-06-05
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